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紅外線氣體分析儀的工作原理


2020.06.29 瀏覽量:570 次
紅外氣體分析儀是利用紅外氣體分析技術(shù),根據(jù)被分析元件的濃度,輻射能量的吸收不同,其余的輻射能使探測器的溫度不同,運動膜兩側(cè)的壓力不同,從而產(chǎn)生電容探測器的電信號,從而間接測量待分析元件的濃度。
 
紅外線氣體分析儀是根據(jù)比爾定律制成的。假定被測氣體為一個無限薄的平面,強度為k的紅外線垂直穿透它,則能量衰減的量為:
I=I0×ekCL (比爾定律)
式中:I--被介質(zhì)吸收的輻射強度;
I0--紅外線通過介質(zhì)前的輻射強度;
k--待分析組分對輻射波段的吸收系數(shù);
C--待分析組分的氣體濃度;
L--氣室長度(赦測氣體層的厚度)
對于一臺制造好了的紅外線氣體分析儀,其測量組分已定,即待分析組分對輻射波段的吸收系數(shù)k一定;紅外光源已定,即紅外線通過介質(zhì)前的輻射強度I0一定;氣室長度L一定。從比爾定律可以看出:通過測量輻射能量的衰減I,就可確定待分析組分的濃度C了。
 
綜上所述,紅外線氣體分析儀是基于氣體對紅外光吸收的郎伯--比爾吸收定律,采用國際上最新的NDIR技術(shù), 如電調(diào)制紅外光源、高靈敏度濾光傳感一體化紅外傳感器、高精度前置放大 電路、可拆卸式鍍膜氣室,局部恒溫控制技術(shù)等,實現(xiàn)不同濃度、不同氣體 (二氧化硫、氮氧化物、二氧化碳、一氧化碳、甲烷等)的高精度連續(xù)檢測。